Toggle navigation
English
Contact
Chercher par
Recherche avancéeâ¦
Se connecter
Toggle navigation
à propos
Qu'est-ce que la métrologie légale ?
La métrologie légale et le commerce
La métrologie légale et la sécurité
La métrologie légale et la santé
La métrologie légale et l'environnement
MoU
CEI
ISO
ONUDI-BIPM
ILAC-IAF
INetQI
Qu'est-ce que l'OIML ?
Nouveau look pour le site web de l'OIML
Organisations en Liaison
Avantages dâêtre Membre de lâOIML
Déclarations conjointes
Publications
Introduction
Documents
Vocabulaires
VIML en ligne
Rapports de Séminaires
Recommandations
Publications de Base
Rapports d'Expert
Bulletin OIML
Editions futures
Numéros précédents et index
Guides
Autres traductions
Structure
Nos Membres
Etats Membres
Membres Correspondants
Carte des Membres OIML
Conférence
Sites web, Résolutions, Compte rendus
BIML
Informations pratiques
Anciens Directeurs
Vacances de poste
CIML
Sites web, Résolutions, Compte rendus
Présidence
Anciens Présidents
Membres d'Honneur
Récompenses
Médailles OIML
Lettres de félicitations OIML
TCs et SCs
Digitalisation Task Group
Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS)
Groupe consultatif
Appartenance au Groupe consultatif
Centres et événements de formation
Matériel de formation
Séminaires
Liste d'Experts
Récompenses CEEMS
Apprentissage en ligne de l'OIML
Table Ronde RLMO
OIML-CS
Informations générales
Recherche d'Autorités de Délivrance
OIML-CS en Anglais
Recherche d'Utilisateurs et Associés
Recherche de certificats enregistrés
Infos & Réunions
Infos
Réunions du CIML
Réunions et événements OIML
Réunions et événements externes
Conférence OIML
Séminaires OIML
Transformation numérique
TC/SC/PG
TCs, SCs et Projets
Liaisons techniques
Recherche (technique)
Projets de Comité
Vous êtes ici :
TC/SC/PG
â¦
CEEMS
p 2
Contacts
Contact List
(Project):
ISRAEL
CEEMS/p 2
Revision of D 19: Pattern evaluation and pattern approval
Retour
