• English
  • Contact
    Recherche avancée…
    • Se connecter
    International Organization of Legal Metrology
    • À propos
      • Qu'est-ce que la métrologie légale ?
        • La métrologie légale et le commerce
        • La métrologie légale et la sécurité
        • La métrologie légale et la santé
        • La métrologie légale et l'environnement
      • MoU
        • CEI
        • ISO
        • ONUDI-BIPM
        • ILAC-IAF
      • INetQI
      • Qu'est-ce que l'OIML ?
        • Nouveau look pour le site web de l'OIML
      • Organisations en Liaison
      • Avantages d’être Membre de l’OIML
      • Déclarations conjointes
    • Publications
      • Introduction
      • Documents
      • Vocabulaires
        • VIML en ligne
      • Rapports de Séminaires
      • Recommandations
      • Publications de Base
      • Rapports d'Expert
      • Bulletin OIML
        • Editions futures
        • Numéros précédents et index
      • Guides
      • Autres traductions
    • Structure
      • Nos Membres
        • Etats Membres
        • Membres Correspondants
        • Carte des Membres OIML
      • Conférence
        • Sites web, Résolutions, Compte rendus
      • BIML
        • Informations pratiques
        • Anciens Directeurs
        • Vacances de poste
      • CIML
        • Sites web, Résolutions, Compte rendus
        • Présidence
        • Anciens Présidents
        • Membres d'Honneur
        • Récompenses
          • Médailles OIML
          • Lettres de félicitations OIML
      • TCs et SCs
      • Digitalisation Task Group
      • Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS)
        • Groupe consultatif
          • Appartenance au Groupe consultatif
        • Centres et événements de formation
        • Matériel de formation
        • Séminaires
        • Liste d'Experts
        • Récompenses CEEMS
        • Apprentissage en ligne de l'OIML
      • Table Ronde RLMO
    • OIML-CS
      • Informations générales
      • Recherche d'Autorités de Délivrance
      • OIML-CS en Anglais
      • Recherche d'Utilisateurs et Associés
      • Recherche de certificats enregistrés
    • Infos & Réunions
      • Infos
      • Réunions du CIML
      • Réunions et événements OIML
      • Réunions et événements externes
      • Conférence OIML
      • Séminaires OIML
        • Transformation numérique
    • TC/SC/PG
      • TCs, SCs et Projets
      • Liaisons techniques
      • Recherche (technique)
      • Projets de Comité
    Vous êtes ici :
    1. TC/SC/PG
    2. Comités techniques
    3. CEEMS

    CEEMS CEEMS

    Ruler

    Contact BIML

    Mr Ian DUNMILL

    Responsable pour

    • D 1:2020 Systèmes de métrologie nationaux – Développement du cadre institutionnel et législatif
    • D 14:2004 Formation et qualification des personnels de métrologie légale
    • B 19:2023 Termes de référence pour le Groupe Consultatif sur les questions concernant les pays et économies dont le système de métrologie est émergeant (CEEMS AG)
    • B 21:2019 Cadre pour les Centres de Formation OIML et les Evènements de Formation OIML
    • G 23:2022 Guide pour l'utilisation des technologies en ligne pour la conduite des activités des CEEMS dans un monde post-COVID

    Projets

    • p 1 Revision of D 14: Training and qualification of legal metrology personnel
    • Phase de PG : Formation du Groupe de Projet - 2020-04-23
    • Questionnaire launched 2022-12-01, deadline extended to 2023-01-31
    • p 2 Revision of D 19: Pattern evaluation and pattern approval
    • Phase de PG : Formation du Groupe de Projet - 2019-10-17
    • 1WD issued 2019-10-17, deadline 2020-01-17. 1CD under preparation
    • p 6 Révision du B 19
    • Approved by the CIML under Resolution CIML/2022/38
    • p 7 Guide to the use of online technology for conducting CEEMS activities in a post-COVID world
    • Approved by the CIML under Resolution CIML/2022/39
    • p 8 Révision du B 19
    • Approved at the 58th CIML
    Retour
    59ème Réunion<br />du CIML

    59ème Réunion
    du CIML

    Lire la suite
    Bulletin OIML<br>avril 2024

    Bulletin OIML
    avril 2024

    Lire la suite
    Journée Mondiale Métrologie 2024

    Journée Mondiale Métrologie 2024

    Lire la suite
    Infos & Réunions

    Infos & Réunions

    Lire la suite
    Publications

    Publications

    Lire la suite
    Apprentissage<br>en ligne

    Apprentissage
    en ligne

    Lire la suite
    • Contacter le staff du BIML
    • Infos pratiques
    • Avertissement
    • Politique de confidentialité & protection des données
    • Webmaster
    OIML Logo
    BIML - 11 rue Turgot - 75009 Paris - France - Tel +33 1 48 78 12 82 - Fax +33 1 42 82 17 27
    © Copyright OIML 2021
    Web design: rouge-pixel.com