English
Contact

Chercher par

Recherche avancée…

Se connecter

À propos
- Qu'est-ce que l'OIML ?
  - Nouveau look pour le site web de l'OIML
- Organisations en Liaison
- Avantages d’être Membre de l’OIML
- Déclarations conjointes
Publications
Structure
- Systèmes de métrologie émergeants (CEEMS)
- Table Ronde RLMO
OIML-CS
- Informations générales
- Recherche d'Autorités de Délivrance
- OIML-CS en Anglais
- Recherche d'Utilisateurs et Associés
- Recherche de certificats enregistrés
Infos & Réunions
- Infos
- Réunions du CIML
- Réunions et événements OIML
- Réunions et événements externes
- Conférence OIML
- Séminaires OIML
  - Transformation numérique
TC/SC/PG
- TCs, SCs et Projets
- Liaisons techniques
- Recherche (technique)
- Projets de Comité

Vous êtes ici :

TC/SC/PG
Comités techniques
TC 5
Contacts

TC 5 Exigences générales pour les instruments de mesure

Ruler

RÉPUBLIQUE TCHÈQUE

Ivana LACKOVA Contact principal

Se connecter pour voir les coordonnées du contact

59ème Réunion<br />du CIML

59ème Réunion
du CIML

Bulletin OIML<br>avril 2024

Bulletin OIML
avril 2024

Journée Mondiale Métrologie 2024

Journée Mondiale Métrologie 2024

Infos & Réunions

Infos & Réunions

Publications

Publications

Apprentissage<br>en ligne

Apprentissage
en ligne

Contacter le staff du BIML
Infos pratiques
Avertissement
Politique de confidentialité & protection des données
Webmaster

BIML - 11 rue Turgot - 75009 Paris - France - Tel +33 1 48 78 12 82 - Fax +33 1 42 82 17 27

© Copyright OIML 2021

Web design: rouge-pixel.com